Многофункциональный атомно-силовой микроскоп-Pro

₽546000
1 Кусок

Получение последних цен

Параметры продукта

Возможность индивидуальной настройки:

Доступна
Послепродажное обслуживание:

Гарантия 1 год

Подробнее Связаться с магазином

ООО Циндао Фэйсыкэ Электронные Технологии

№ 88, Hong Kong East Road, Циндао, Китай

Описание продукта

Информация о компании

Основная информация

Скорость сканирования

0,1 Гц ~ 30 Гц

Уровень шума по оси Z

0,04 нм

Упаковка и доставка

Транспортная Упаковка

стандартная транспортная упаковка

Происхождение

China

Описание продукта

Основные характеристики

Сверхвысокое вертикальное разрешение 40 пм
Интеллектуальные функции фокусировки, ввода иглы и настройки параметров для простоты эксплуатации
Настольный сканер XYZ обеспечивает получение реалистичных изображений без искажений
Интегрированная модель искусственного интеллекта для научных исследований с виртуальной экспертной поддержкой на протяжении всего процесса
Собственная разработка ядра АСМ — «источника питания», высокоскоростная система управления на базе FPGA
Мощная функциональная конфигурация, включающая многофункциональные режимы измерения, включая наномеханические, магнитные и электрические измерения
Встроенное мощное программное обеспечение для анализа

Технические характеристики

Технические характеристики
Размер образца:	Совместимость с образцами диаметром до 25 мм
Метод сканирования:	Трехосное сканирование образца по осям XYZ
Диапазон сканирования:	100 мкм x 100 мкм x 10 мкм
Скорость сканирования:	0,1 Гц ~ 30 Гц
Уровень шума по оси Z:	0,04 нм
Нелинейность:	Направление XY: 0,02%, направление Z: 0,08%
Точки дискретизации изображения:	32×32 до 4096×4096
Режимы работы:	Контактный режим, режим касания, режим фазовой визуализации, режим подъема, режим многонаправленного сканирования
Многофункциональные измерения:	EFM, KPFM, PFM, SCM, MFM
Дополнительно	C-AFM

Основная машина

Module No.	Item	Description
SAFM-PRO	Measurement mode	Electrostatic force microscopy (EFM); Scanning Kelvin microscopy (KPFM); Piezoelectric force microscopy (PFM) Scanning capacitance atomic force microscopy (SCM); Magnetic force microscopy (MFM);

Параметры

Module No.	Item	Description
C-AFM	Measurement mode	Conductive Atomic Force Microscopy

Тип деятельности:

Производитель / завод
Основная продукция:

Анализатор
Количество сотрудников:

100
Год основания:

2023
Сертификация систем менеджмента:

10
Средний срок поставки:

1 месяц
Номер:

100001
Среднее время ответа:

1 час

Компания ООО Циндао Фэйсыкэ Электронные Технологии, это профессиональный дистрибьютор с почти 20-летним опытом работы в области электронных измерений, головной офис которого находится в китайском городе Циндао. Здесь может похвастаться не только солнцем, пляжами и пивом Tsingdao, но и многочисленными исследовательскими институтами, связанными со всемирно известными брендами, такими как Haier, Hisense, Gore, CRRC и CETC, расположенными в радиусе 50 километров. Благодаря более чем десятилетнему тесному сотрудничеству с этими организациями мы накопили богатый опыт в области продукции и отрасли и можем предложить профессиональные комплексные решения для клиентов из различных сфер, таких как мобильная связь, спутниковая связь, Интернет вещей, полупроводники и т. д.

Возможность торговать

Международные торговые термины(Incoterms):

FOB
Условия оплаты:

банковская карта
Средний срок поставки:

1 месяц
Количество сотрудников по внешней торговле:

10
Год начала экспорта:

2
Доля экспорта:

20%
Основные рынки сбыта:

CHINA
Ближайший порт:

QINGDAO
Схема импорта-экспорта:

9710

Производственные мощности

Адрес завода:

ООО Циндао Фэйсыкэ Электронные Технологии
Научно-исследовательский потенциал:

Интеграция исследований и разработок, производства и продаж
Количество научных сотрудников:

3
Годовой объем производства:

100000

ООО Циндао Фэйсыкэ Электронные Технологии

Отправить сообщение этому магазину

*имя:

*почта:

*Ваш телефон:

*содержание:

Введите от 20 до 4000 символов.

ООО Циндао Фэйсыкэ Электронные Технологии

№ 88, Hong Kong East Road, Циндао, Китай

Главная Связаться с магазином